- Bạn vui lòng tham khảo Thỏa Thuận Sử Dụng của Thư Viện Số
Tài liệu Thư viện số
Danh mục TaiLieu.VN
Nghiên cứu này đưa ra công thức xác định hàm hấp thu tổng quát có thể áp dụng để tính toán trên bề mặt phẳng hoặc bề mặt cong. Mô hình nghiên cứu là bề mặt Ellipsoid hạn chế bởi hai bán kính cong, được nhiễu xạ X – quang bằng phương pháp đo ψ (side – inclination) cố định góc η và ηo...
11 p hcmute 20/12/2016 384 2
Từ khóa: nhiễu xạ X – quang, hệ số hấp thu, bề mặt phẳng, bề mặt cong, bề mặt Ellipsoid, side – inclination
Xác định hàm hấp thu tổng quát dùng nhiễu xạ X quang cho bề mặt Ellipsoid sử dụng phương pháp đo
Nghiên cứu đặc tính của tia X, sự ảnh hưởng của biên dạng vật mẫu đến sự hấp thụ tia X. Thông qua đó tác giả xác định hàm hấp thu của bề mặt Ellipsoid khi nhiễu xạ X quang, sử dụng phương pháp đo. Biến đổi công thức tìm được để áp dụng cho bề mặt phẳng và bề mặt cong.
22 p hcmute 09/05/2016 443 2
Từ khóa: Nhiễu xạ X – quang, Hệ số hấp thu, Bề mặt phẳng, Bề mặt cong, Bề mặt Ellipsoid