Xác định hàm hấp thu tổng quát dùng nhiễu xạ X quang cho bề mặt Ellipsoid sử dụng phương pháp đo
Nghiên cứu đặc tính của tia X, sự ảnh hưởng của biên dạng vật mẫu đến sự hấp thụ tia X. Thông qua đó tác giả xác định hàm hấp thu của bề mặt Ellipsoid khi nhiễu xạ X quang, sử dụng phương pháp đo. Biến đổi công thức tìm được để áp dụng cho bề mặt phẳng và bề mặt cong.
Xin lỗi bạn không thể down load tài liệu này. Bạn có thể xem tài liệu trực tuyến trên website hoặc liên hệ thư viện trường để được hướng dẫn. Cảm ơn bạn đã sử dụng dịch vụ của chúng tôi.
Bạn vui lòng tham khảo thỏa thuận sử dụng của thư viện số.