Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

Xác định hàm hấp thu tổng quát dùng nhiễu xạ X quang cho bề mặt Ellipsoid sử dụng phương pháp đo

Nghiên cứu đặc tính của tia X, sự ảnh hưởng của biên dạng vật mẫu đến sự hấp thụ tia X. Thông qua đó tác giả xác định hàm hấp thu của bề mặt Ellipsoid khi nhiễu xạ X quang, sử dụng phương pháp đo. Biến đổi công thức tìm được để áp dụng cho bề mặt phẳng và bề mặt cong.

Từ khóa: Nhiễu xạ X – quang, Hệ số hấp thu, Bề mặt phẳng, Bề mặt cong, Bề mặt Ellipsoid

22 p ovanketv 09/05/2016 412 2

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận