DETERMINATION GENERAL ABSORPT FUNCTION USE X-RAY DIFFRACTION ON ELLIPSOID SURFACE APPLY BY Ψ MEASUREMENT METHOD
Nghiên cứu này đưa ra công thức xác định hàm hấp thu tổng quát có thể
áp dụng để tính toán trên bề mặt phẳng hoặc bề mặt cong. Mô hình nghiên cứu là bề mặt Ellipsoid hạn chế bởi hai bán kính cong, được nhiễu xạ X – quang bằng phương pháp đo ψ (side – inclination) cố định góc η và ηo...
Xin lỗi bạn không thể down load tài liệu này. Bạn có thể xem tài liệu trực tuyến trên website hoặc liên hệ thư viện trường để được hướng dẫn. Cảm ơn bạn đã sử dụng dịch vụ của chúng tôi.
Bạn vui lòng tham khảo thỏa thuận sử dụng của thư viện số.