Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

DETERMINATION GENERAL ABSORPT FUNCTION USE X-RAY DIFFRACTION ON ELLIPSOID SURFACE APPLY BY Ψ MEASUREMENT METHOD

Nghiên cứu này đưa ra công thức xác định hàm hấp thu tổng quát có thể
áp dụng để tính toán trên bề mặt phẳng hoặc bề mặt cong. Mô hình nghiên cứu là bề mặt Ellipsoid hạn chế bởi hai bán kính cong, được nhiễu xạ X – quang bằng phương pháp đo ψ (side – inclination) cố định góc η và ηo...

Từ khóa: nhiễu xạ X – quang, hệ số hấp thu, bề mặt phẳng, bề mặt cong, bề mặt Ellipsoid, side – inclination

11 p ovanketv4 20/12/2016 398 2

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận