DETERMINATION GENERAL ABSORPT FUNCTION USE X-RAY DIFFRACTION ON ELLIPSOID SURFACE APPLY BY Ψ MEASUREMENT METHOD

Nghiên cứu này đưa ra công thức xác định hàm hấp thu tổng quát có thể
áp dụng để tính toán trên bề mặt phẳng hoặc bề mặt cong. Mô hình nghiên cứu là bề mặt Ellipsoid hạn chế bởi hai bán kính cong, được nhiễu xạ X – quang bằng phương pháp đo ψ (side – inclination) cố định góc η và ηo...
Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.