- Bạn vui lòng tham khảo Thỏa Thuận Sử Dụng của Thư Viện Số
Tài liệu Thư viện số
- UTE. Thông tin -Thư viện (401 )
- UTE. Giáo trình 65 Năm (388 )
- UTE. Kỷ yếu hội thảo (10 )
- UTE. Tạp chí (62 )
- UTE. Luận văn, Luận án (2794 )
- UTE. Báo cáo, Đồ án (8683 )
- UTE. Báo cáo NCKH (1310 )
- UTE. Ngành Luật (34 )
- UTE. Thông tin Tuyển sinh (61 )
- Cơ khí chế tạo máy (2348 )
- Giáo trình, TL học tập (1352 )
- Tài liệu theo CTĐT (7 )
- Điện - Điện tử (4381 )
- Cơ khí động lực (1242 )
- Xây dựng - Kiến trúc (3233 )
- CN Thực phẩm - Môi trường (1087 )
- Công nghệ thông tin (3098 )
- Kinh tế - Quản lý (4148 )
- CN In - Truyền thông (383 )
- CN May - thời trang (832 )
- Nghệ thuật - Ẩm thực (1516 )
- Nông - Lâm - Ngư Nghiệp (763 )
- Y học - Sức khỏe (621 )
- Khoa học xã hội (3535 )
- Lịch sử - Địa lý - Du lịch (492 )
- Khoa học tự nhiên (2112 )
- Văn học (2587 )
- Ngôn ngữ (4248 )
- Thể loại khác (1376 )
- Kỹ thuật - Khoa học ứng dụng (408 )
Danh mục TaiLieu.VN
- Mẫu Slide Powerpoint
- Luận Văn - Báo Cáo (346704)
- Kinh Doanh Marketing (67778)
- Kinh Tế - Quản Lý (50036)
- Tài Chính - Ngân Hàng (57809)
- Công Nghệ Thông Tin (143292)
- Tiếng Anh - Ngoại Ngữ (47261)
- Kỹ Thuật - Công Nghệ (137309)
- Khoa Học Tự Nhiên (110530)
- Khoa Học Xã Hội (85272)
- Văn Hoá - Nghệ Thuật (54491)
- Y Tế - Sức Khoẻ (177214)
- Nông - Lâm - Ngư (63475)
- Kỹ Năng Mềm (29084)
- Biểu Mẫu - Văn Bản (27862)
- Giải Trí - Thư Giãn (52535)
- Văn Bản Luật (199483)
- Tài Liệu Phổ Thông (409665)
- Trắc Nghiệm Online (213578)
- Trắc Nghiệm MBTI
- Trắc Nghiệm Holland
» Từ khóa: electrodiffusion
Kết quả 1-2 trong khoảng 2
-
Electromigration in ULSI Interconnections
Electromigration in ULSI Interconnections/ Cher Ming Tan. -- Hackensack, NJ: World Scientific, 2010. Call no. : 621.31 T161 Summary:Electromigration in ULSI Interconnections provides a comprehensive description of the electromigration in integrated circuits. It is intended for both beginner and advanced readers on electromigration in ULSI interconnections. It begins with the basic knowledge required for a detailed study on electromigration,...
17 p hcmute 06/09/2024 257 0
Từ khóa: Electrodiffusion, Integrated circuits -- Ultra large scale integration
-
Electromigration in ULSI Interconnections
TAN, CHER MINGElectromigration in ULSI Interconnections/ Cher Ming Tan. -- Hackensack, NJ: World Scientific, 2010. - xix, 291 p.: ill.; 24 cm . Sách có tại Phòng Mượn, Thư viện Đại học Sư phạm Kỹ thuật TP. Hồ Chí Minh. Số phân loại: 621.31 T161
15 p hcmute 13/04/2022 239 0
Từ khóa: Electrodiffusion, Integrated circuits, Ultra large scale integration
Bộ sưu tập nổi bật
Phát triển bởi Thư viện số
