- Bạn vui lòng tham khảo Thỏa Thuận Sử Dụng của Thư Viện Số
Tài liệu Thư viện số
Danh mục TaiLieu.VN
Electromigration in ULSI Interconnections
TAN, CHER MINGElectromigration in ULSI Interconnections/ Cher Ming Tan. -- Hackensack, NJ: World Scientific, 2010. - xix, 291 p.: ill.; 24 cm . Sách có tại Phòng Mượn, Thư viện Đại học Sư phạm Kỹ thuật TP. Hồ Chí Minh. Số phân loại: 621.31 T161
15 p hcmute 13/04/2022 171 0
Từ khóa: Electrodiffusion, Integrated circuits, Ultra large scale integration
Bộ sưu tập nổi bật