Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

Electromigration in ULSI Interconnections

TAN, CHER MINGElectromigration in ULSI Interconnections/ Cher Ming Tan. -- Hackensack, NJ: World Scientific, 2010. - xix, 291 p.: ill.; 24 cm .
Sách có tại Phòng Mượn, Thư viện Đại học Sư phạm Kỹ thuật TP. Hồ Chí Minh.
Số phân loại: 621.31 T161

Từ khóa: Electrodiffusion, Integrated circuits, Ultra large scale integration

15 p ovanke 13/04/2022 239 0

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận