- Bạn vui lòng tham khảo Thỏa Thuận Sử Dụng của Thư Viện Số
Tài liệu Thư viện số
Danh mục TaiLieu.VN
Trong luận văn này, kỹ thuật nhiễu xạ tia X với bức xạ CuKα có chiều sâu thấm tương đương 5 micromet được sử dụng để xác định bề rộng một nửa (FWHM) đỉnh phổ nhiễu xạ của màng mỏng Crôm tại mặt nhiễu xạ {211}. Từ biểu đồ quan hệ B – N giữa FWHM và số chu kỳ mỏi ta có thể dự đoán được tuổi thọ của các chi tiết máy có lớp Crôm...
22 p hcmute 15/06/2016 443 2
Từ khóa: Nhiễu xạ X–quang, Lớp tăng bề mặt, Kỹ thuật cơ khí