Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

Nghiên cứu xác định trạng thái mỏi của lớp tăng bền bề mặt trong quá trình làm việc bằng phương pháp nhiễu xạ X – quang

Trong luận văn này, kỹ thuật nhiễu xạ tia X với bức xạ CuKα có chiều sâu thấm tương đương 5 micromet được sử dụng để xác định bề rộng một nửa (FWHM) đỉnh phổ nhiễu xạ của màng mỏng Crôm tại mặt nhiễu xạ {211}. Từ biểu đồ quan hệ B – N giữa FWHM và số chu kỳ mỏi ta có thể dự đoán được tuổi thọ của các chi tiết máy có lớp Crôm tăng bền bề mặt.

Từ khóa: Nhiễu xạ X–quang, Lớp tăng bề mặt, Kỹ thuật cơ khí

22 p ovanketv4 15/06/2016 443 2

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận