Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

Xác định hàm hấp thu tổng quát dùng nhiễu xạ X quang cho bề mặt ELLIPSOID sử dụng phương pháp đo: Lụận văn thạc sĩ

Xác định hàm hấp thu tổng quát dùng nhiễu xạ X quang cho bề mặt ELLIPSOID sử dụng phương pháp đo: Lụận văn thạc sĩ ngành Kỹ thuật cơ khí 60520103/ Nguyễn Hoàng Thông. -- Tp. Hồ Chí Minh: Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật thành phố Hồ Chí Minh, 2014 xi, 67tr.; 30cm+1 đĩa CD 1. Ứng suất dư. 2. Vật liệu học. I. Lê Chí Cương, Người hướng dẫn. Dewey Class no. : 620.11272 -- dc 23Call no. : 60520103 620.11272 N573-T486

Từ khóa: Ứng suất dư; Vật liệu học; Lê Chí Cương: Người hướng dẫn.

81 p ovanke 12/10/2021 267 5

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận