Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ
Nguyễn Thị Hồng
Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ/ Nguyễn Thị Hồng. -- Tp.Hồ Chí Minh: Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật Tp.HCM, 2009
70tr.; 30cm
1. Ưng suất dư. 2. Vật liệu h ọc -- Ứng suất dư. 3. Vật liệu học. I. Lê Chí Cương Người hướng dẫn.
Dewey Class no. : 620.11272 -- dc 22
Call no. : 605204 620.11272 N573-H772
Xin lỗi bạn không thể down load tài liệu này. Bạn có thể xem tài liệu trực tuyến trên website hoặc liên hệ thư viện trường để được hướng dẫn. Cảm ơn bạn đã sử dụng dịch vụ của chúng tôi.
Bạn vui lòng tham khảo thỏa thuận sử dụng của thư viện số.