Tài liệu Thư viện số
- UTE. Thông tin -Thư viện (413 )
- UTE. Giáo trình 65 Năm (370 )
- UTE. Kỷ yếu hội thảo (8 )
- UTE. Tạp chí (51 )
- UTE. Luận văn, Luận án (2698 )
- UTE. Báo cáo, Đồ án (6522 )
- UTE. Báo cáo NCKH (1309 )
- UTE. Ngành Luật (53 )
- UTE. Thông tin Tuyển sinh (50 )
- Cơ khí chế tạo máy (2801 )
- Giáo trình, TL học tập (1355 )
- Tài liệu theo CTĐT (0 )
- Điện - Điện tử (4614 )
- Cơ khí động lực (1309 )
- Xây dựng - Kiến trúc (3643 )
- CN Thực phẩm - Môi trường (1191 )
- Công nghệ thông tin (3886 )
- Kinh tế - Quản lý (5021 )
- CN In - Truyền thông (410 )
- CN May - thời trang (876 )
- Nghệ thuật - Ẩm thực (1698 )
- Nông - Lâm - Ngư Nghiệp (1387 )
- Y học - Sức khỏe (932 )
- Khoa học xã hội (5155 )
- Lịch sử - Địa lý - Du lịch (520 )
- Khoa học tự nhiên (3341 )
- Văn học (2598 )
- Ngôn ngữ (4549 )
- Thể loại khác (1395 )
- Kỹ thuật - Khoa học ứng dụng (400 )
Danh mục TaiLieu.VN
- Mẫu Slide Powerpoint
- Luận Văn - Báo Cáo (344720)
- Kinh Doanh Marketing (65512)
- Kinh Tế - Quản Lý (48934)
- Tài Chính - Ngân Hàng (55898)
- Công Nghệ Thông Tin (142209)
- Tiếng Anh - Ngoại Ngữ (47066)
- Kỹ Thuật - Công Nghệ (134345)
- Khoa Học Tự Nhiên (107174)
- Khoa Học Xã Hội (82451)
- Văn Hoá - Nghệ Thuật (54408)
- Y Tế - Sức Khoẻ (173915)
- Nông - Lâm - Ngư (62504)
- Kỹ Năng Mềm (29016)
- Biểu Mẫu - Văn Bản (27610)
- Giải Trí - Thư Giãn (51994)
- Văn Bản Luật (198854)
- Tài Liệu Phổ Thông (402015)
- Trắc Nghiệm Online (213578)
- Trắc Nghiệm MBTI
- Trắc Nghiệm Holland
Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ
Nguyễn Thị Hồng
Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ/ Nguyễn Thị Hồng. -- Tp.Hồ Chí Minh: Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật Tp.HCM, 2009
70tr.; 30cm
1. Ưng suất dư. 2. Vật liệu h ọc -- Ứng suất dư. 3. Vật liệu học. I. Lê Chí Cương Người hướng dẫn.
Dewey Class no. : 620.11272 -- dc 22
Call no. : 605204 620.11272 N573-H772
Dữ liệu xếp giá
SKC002427 (DHSPKT -- KD -- )
Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ/ Nguyễn Thị Hồng. -- Tp.Hồ Chí Minh: Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật Tp.HCM, 2009
70tr.; 30cm
1. Ưng suất dư. 2. Vật liệu h ọc -- Ứng suất dư. 3. Vật liệu học. I. Lê Chí Cương Người hướng dẫn.
Dewey Class no. : 620.11272 -- dc 22
Call no. : 605204 620.11272 N573-H772
Dữ liệu xếp giá
SKC002427 (DHSPKT -- KD -- )
Từ khóa: Ưng suất dư, Vật liệu h ọc
8 p minhhoai 05/12/2012 344 1
Phát triển bởi Thư viện số
