Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ

Nguyễn Thị Hồng
Xác định hàm hấp thu tổng quát cho bề mặt Ellipsoid trong đo ứng suất dùng nhiễu xạ X - Quang: Luận văn Thạc sĩ/ Nguyễn Thị Hồng. -- Tp.Hồ Chí Minh: Trường Đại học Sư phạm Kỹ thuật Tp.HCM, 2009

70tr.; 30cm
1. Ưng suất dư. 2. Vật liệu h ọc -- Ứng suất dư. 3. Vật liệu học. I. Lê Chí Cương Người hướng dẫn.

Dewey Class no. : 620.11272 -- dc 22
Call no. : 605204 620.11272 N573-H772

Dữ liệu xếp giá
SKC002427 (DHSPKT -- KD -- )

Từ khóa: Ưng suất dư, Vật liệu h ọc

8 p minhhoai 05/12/2012 406 1

Bình luận