Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

XÁC ĐỊNH CHIỀU DÀY CỦA LỚP MÀNG MỎNG BẰNG NHIỄU XẠ TIA X VÀ SO SÁNH VỚI MỘT SỐ PHƯƠNG PHÁP KHÁC NHƯ SIÊU ÂM HAY KIM TƯƠNG

Chiều dày của lớp màng mỏng phủ trên bề mặt chi tiết ảnh hưởng lớn đến quá trình làm việc của nó nên việc xác định nó là cần thiết. Phương pháp nhiễu xạ X-quang là phương pháp kiểm tra không phá hủy (Non-Destructive-Testing – NDT) dùng để xác định được thành phần pha, cấu trúc tinh thể, ứng suất…và nó cũng có thể xác định được chiều dày như các phương pháp siêu âm, từ trường, dòng xoáy.

Từ khóa: Nondestructive inspection, X-ray Stress Measurement, Absorption Factor, X-ray Diffraction, Penetration Depth, thickness determination

9 p ovanketv4 17/11/2016 316 2

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận