Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

PHÂN TÍCH ĐỈNH NHIỂU XẠ TIA X MẪU KIM LOẠI (THÉP C45) TRÊN HỆ MÁY X’PERT PRO VỚI PHẦN MỀM HIGHSCORE-2007

Việc sử dụng các thiết bị X-ray cho các thực nghiệm kiểm tra không phá hủy là cần thiết và hiệu quả khi nó kết hợp với phần mềm chuyên dùng. Giúp cho chúng ta có kết quả đáng tin cậy và nhanh. Các thực nghiệm chúng tôi trên mẫu chịu tải trọng thay đổi theo các chu kỳ khác nhau, thiết bị đo X’Pert Pro và phần mềm HighScore dùng để đánh kết quả thực nghiệm so với lý thuyết đã có

Từ khóa: FWHM độ rộng một nửa đỉnh phổ, phổ nhiểu xạ, công thức Scherrer

11 p ovanketv4 15/12/2016 725 1

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận