Tài liệu Thư viện số

Danh mục TaiLieu.VN

Nghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thô

Khi dùng phương pháp đo nhiễu xạ X-Quang cho trường hợp các hạt tinh thể lớn, hạt thô, chẳng hạn như mẫu ủ sẽ làm kết quả đo ứng suất dư bị sai lệch bởi vì chùm tia x không nhiễu xạ hết được hạt tinh thể. Điều này xảy ra ngay cả khi thời gian đo được kéo dài. Đây có thể là một vấn đề đối với các phép đo sử dụng mẫu đặt trên mặt phẳng ngang. Để giải quyết vấn đề này, một phương pháp dao động mẫu với góc ∆α sẽ khắc phục được nhược điểm này. Tuy nhiên khi góc ψ được thay đổi, khoảng dao động ∆α này chỉ có giá trị nhỏ vì bước quét góc nhiễu xạ 2θ thay đổi trong quá trình dao động ψ. Điều này ảnh hưởng đến mối quan hệ giữa các góc nhiễu xạ và góc ψ.

Từ khóa: Nghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thôNghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thôNghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thôNghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thôNghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thôNghiên cứu xác định ứng suất dư cho vật liệu tinh thể hạt thô, Huỳnh Chí Trường

22 p ovanketv 01/06/2018 432 3

Bạn đang xem trang mẫu tài liệu này.
Bình luận